Prozessabhängigkeit der Feldeffektbeweglichkeit und Stabilität der Einsatzspannung von 4H-SiC MOS Transistoren
Neubuch
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Details zum Buch
Beschreibung
Verlag:
ISBN:
9783844048728
3844048723
Erscheinungsdatum:
29.11.2016
Bindung:
Softcover, Paperback
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