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Prozessabhängigkeit der Feldeffektbeweglichkeit und Stabilität der Einsatzspannung von 4H-SiC MOS Transistoren

Neubuch

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Details zum Buch

Beschreibung

ISBN:

9783844048728
3844048723

Erscheinungsdatum:

29.11.2016

Bindung:

Softcover, Paperback
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